精密工学会学術講演会講演論文集
2014年度精密工学会春季大会
セッションID: A79
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走査型イオン伝導顕微鏡測定における試料表面の帯電状態の影響
*石崎 公大中島 真人牛木 辰男岩田 太
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抄録
走査型イオン伝導顕微鏡は液中において開口数十nmのピペット内を流れるイオン電流を検出することでプローブ試料間距離を制御し、非接触で生きた生体試料を観察可能な顕微鏡である。しかしながら、液中の生体試料は帯電表面を持つことが知られており、イオン電流検出への影響が問題となってくる。本発表では試料表面の帯電が走査型イオン伝導顕微鏡イメージングに与える影響について報告する。
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© 2014 公益社団法人 精密工学会
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