主催: 公益社団法人精密工学会
東京工大 大学院情報理工学研究科 計算工学専攻
東レエンジニアリング 開発部門 要素技術開発センター
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赤外光の透過量を測定することにより試料内部の様子を撮影できる.本論文では,複数の異なる階層から得られた内部画像の位置ずれを補正する方法を提案する.ある階層の画像には焦点のずれた他の階層の情報が重畳されるため,二乗誤差や相関係数などの単純な類似性尺度のもとでは,うまく位置ずれ補正を行うことができない.そこで,二乗損失相互情報量と呼ばれる統計的従属性尺度を用いることを提案し,その有効性を実験的に示す.
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