タイコグラフィ法による光渦ビーム波動場の精密計測

抄録

光マニピュレーションや超解像顕微鏡において，高品質な光渦ビームが必要とされている．集光された光渦の強度，位相分布は複雑であり，評価手法は確立されていなかった．我々はピンホールを走査物体としたタイコグラフィの利用を提案している．ピンホールから回折する光を逐次撮像し，それらを用いて位相回復計算を行う．また，計算過程で撮像範囲外の回折光を外挿し，計測の高分解能化を図ると共に，その正確さの評価を行った．