多重記録を用いたスペックル干渉計測におけるスペックルパターンの劣化について

抄録

画像の多重記録技術は軸外しディジタルホログラフィにおいて一般的に用いられている重要な画像採取技術である．ところが，この技術をスペックル干渉計測に用いた場合，軸外し量による画像素子の特性により多重記録信号ごとに空間分解能の違いが発生する．さらに，スペックルパターンのS/N比の劣化が生じる．本研究ではこのような現象またその影響について報告する．