HOG特徴量を電子部品検査に適用した場合の課題検討

西村 晃紀; 柳部 正樹; 青戸 勇太; 長谷 智紘; 森山 健; 前田 俊二

doi:10.11522/pscjspe.2017A.0_219

2017年度精密工学会秋季大会

セッションID: D08

DOI https://doi.org/10.11522/pscjspe.2017A.0_219

会議情報

主催: 公益社団法人精密工学会

会議名: 2017年度精密工学会秋季大会

開催地: 大阪大学

開催日: 2017/09/20 - 2017/09/22

HOG特徴量を電子部品検査に適用した場合の課題検討

*西村晃紀, 柳部正樹, 青戸勇太, 長谷智紘, 森山健, 前田俊二

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キーワード: 外観検査, 電子部品, HOG特徴量, Histogram Intersection, Kullback Leibler Divergence

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抄録

精密な電子部品を製造する際には，部品の欠陥の有無を検査装置による自動検査により識別しているが，欠陥候補には良品も多く含まれるため，目視による再検査を行う必要がある．本研究は，検査対象画像の切出し位置決定および比較画像間の位置合わせを，HOG特徴量の類似度によりおこない，欠陥画像と良品画像の分類を可能とすることを目的とする．本報告は，HOG特徴量を電子部品検査に適用した際の課題について検討するものである．

責任著者(Corresponding author)

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