La埋め込みターゲットを用いたTalbot-Lau干渉計によるX線位相イメージング

抄録

Talbot-Lau干渉計は実験室系のX線源を用いた位相イメージング法であり、軽元素材料に対して高感度であるため開発が進められている。我々はこれまで埋め込みターゲットを用いてTalbot-Lau干渉計の実用化に向けて研究してきた。今回はターゲット材料としてLaを検討した。Laは低い熱伝導率のためターゲット材料として用いることができなかったが、埋め込みターゲットとして使用することによりその実用化が期待できる。