光学式三次元測定システムによる幾何偏差評価の同等性検証

佐藤 理; 阿部 誠; 高辻 利之

doi:10.11522/pscjspe.2017A.0_967

2017年度精密工学会秋季大会

セッションID: P33

DOI https://doi.org/10.11522/pscjspe.2017A.0_967

会議情報

主催: 公益社団法人精密工学会

会議名: 2017年度精密工学会秋季大会

開催地: 大阪大学

開催日: 2017/09/20 - 2017/09/22

光学式三次元測定システムによる幾何偏差評価の同等性検証

*佐藤理, 阿部誠, 高辻利之

著者情報

キーワード: 光計測, 三次元測定

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抄録

光学式三次元測定システムによる測定では機械部品上の複数の幾何偏差を短時間で一括して評価することができる．しかしながら標準的な評価領域の選択方法などが決まっていないため，測定者によって評価結果に差異を生じている．本研究では標準手順案を策定し，その方法に従うことで，測定者が異なる場合でも同等性のある評価結果が得られるかを検証した．

責任著者(Corresponding author)

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