1ピッチ位相解析（OPPA）法による高速3次元形状・変形計測

抄録

３次元形状や変形を計測するのに、プロジェクタを用いた投影格子や、対象物体に描画した格子の位相解析を行なうことにより高精度で形状や変形を求めることができる。位相解析法として、１枚の格子画像から、格子の１ピッチだけを取り出し、その位相を解析する１ピッチ位相解析（OPPA）法を新たに開発した。これにより、高速高精度で位相を解析でき、リアルタイム計測や超高速計測が可能となる。その原理と適用例を示す。