多層膜KBミラーを用いたX線自由電子レーザ－ナノ集光システムの開発

スペックルを利用したビームキャラクタリゼーション法の検討

抄録

X線自由電子レーザーをナノ集光することで超高ピーク強度が可能となるが，X線集光素子が作るビーム強度プロファイルと波面を正確に計測し適切に改善しなければ，理想的な集光は実現できない．我々は，微粒子の散乱によるスペックルパターンを利用したシングルショット二次元ビームキャラクタリゼーション法を計算機シミュレーションにより検討した．また，実際のSACLAでの集光実験にも導入しこれを評価した．