主催: 公益社団法人精密工学会
会議名: 2020年度精密工学会春季大会
開催地: 東京農工大学
開催日: 2020/03/17 - 2020/03/19
p. 208-209
X線CTスキャンで得られたCT画像は、輝度値が連続的に変化し、物体と背景の境界点を一意に決定することが難しい。また、低画質の原因となるノイズなどが存在する。そのため、物体のエッジを高画質で強調する方法が求められる。そこで、X線の投影値の解析的微分値を用いて、エッジ強調することを提案する。得られたエッジ強調画像を画質評価した結果、従来のエッジ強調フィルタよりも高画質なCT画像が得られたことを示す。