光コムパルス干渉とエタロン多重反射による高精度ファイバセンサの開発

抄録

ファイバセンサは橋梁や航空機等の構造物の監視や過酷な環境下での測定に用いられている．この領域では高精度化，高感度化が常に求められている．本研究では，光コムの繰り返し周波数走査時のパルス干渉とファイバエタロンの多重反射を用いて，その絶対長をシンプルな光学系で高精度計測するシステムを提案する．実験の結果，数百mm程度のエタロンを繰り返し精度数nmで測定可能であり，高精度・高感度なセンサへの応用が期待される．