主催: 公益社団法人精密工学会
会議名: 2024年度精密工学会春季大会
開催地: 東京大学
開催日: 2024/03/12 - 2024/03/14
p. 266-267
構造化照明顕微鏡法(SIM)において,照明パターンの空間的なずれは再構成の品質に大きな悪影響を及ぼす.故に,通常は光学系の精緻なキャリブレーションが必要となる.本研究では,Deep Image Prior法を用いて,照明位置の誤差推定とSIM再構成を同時に実現する手法を確立した.シミュレーション画像を用いた実験では,提案法により再構成画像の解像度向上が確認できた.