主催: 公益社団法人精密工学会
会議名: 2024年度精密工学会春季大会
開催地: 東京大学
開催日: 2024/03/12 - 2024/03/14
p. 316-317
散乱の異方性により,特定の照明および検出条件でのみ検出可能な欠陥の存在のため,試料の散乱特性に依存しない撮像法が求められている.本研究では,小型な検出器により,検出器の設置自由度および感度が高いゴーストイメージングに着目し,複数角度から散乱光を計測し,再構成した画像から法線マップを測定することで,欠陥を検出する手法を提案する.本報告では,形状により散乱の異方性を持つ試料を用いた実験結果を示す.