溶接学会論文集
Online ISSN : 2434-8252
Print ISSN : 0288-4771
複合リードフレームの金錫接合部の強度特性
LSIパッケージ用リードフレーム材料の接続に関する研究(第3報)
御田 護高城 正治山口 健司田中 浩基
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1997 年 15 巻 1 号 p. 174-179

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抄録
This report considered the low melting point Au-Sn micro-soldering (connection heat tool temp. 523 K) which is applied to the combination leadframe assembling. This method is performed by heat and press tool connection of tin spot plated leads and gold plated interposer with non flux. Au-Sn micro-soldered layer has the high thermal resistance of 556 K and the high reliability in 423 K storage and the 358 K×85%RH electro-migration test (applied DC bias). And the organic polyimide base film is not damaged at micro-soldering temperature because of short connection time (5 second at 523 K).
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© 一般社団法人 溶接学会
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