セッション1-4 太陽電池モジュール構成セルの劣化評価方法(信頼性・品質3学会合同シンポジウム)

高久 清; 中村 國臣; 中原 乾志; 津田 泉

doi:10.11348/reajshinrai.24.8_779

高久清, 中村國臣, 中原乾志, 津田泉

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キーワード: 太陽電池モジュール, セル, 劣化, Isc

ジャーナルフリー

2002 年 24 巻 8 号 p. 779-782

DOI https://doi.org/10.11348/reajshinrai.24.8_779

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抄録

筆者らは,すでに太陽電池モジュールを構成するセルの特性(IscとVoc)を,モジュール端子から非破壊的に評価する方法を提案した.この方法は,通常のモジュールIV特性と,評価対象セルに減光板をかぶせたモジュールIV特性とを測定し,そのデータを解析してセルの特性を評価する方法である.今回は,従来提案した方法を,太陽電池モジュール構成セルの劣化評価に適用できるように簡素化した.具体的には構成セルのIscを推定し,その分布を調べる方法を示す.

責任著者(Corresponding author)

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