日本信頼性学会誌　信頼性
Online ISSN : 2424-2543
Print ISSN : 0919-2697
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ナノスケール高信頼性LSIの寿命分布 : 故障物理からのバスタブ曲線の考察 (故障物理と信頼性)
木村 忠正
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2004 年 26 巻 1 号 p. 46-53

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抄録
ナノスケール時代の最新の半導体LSIの信頼性は,従来のバスタブ曲線の考え方には必ずしも従わない.高信頼性LSIでは故障率vs時間特性をどのように孝えるべきか,故障物理の視点から,従来のバスタブ曲線の初期故障,偶発故障,摩耗故障それぞれの領域を見直し,新しい考え方を提案する.
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© 2004 日本信頼性学会
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