ルネサス エレクトロニクス株式会社 [日本]
2017 年 39 巻 5 号 p. 262-269
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今日，機械学習やディープラーニングといったデータを利用して推論を行う人工知能は，画像認識な ど様々な分野で大きな成功をおさめている．LSI テストの分野においても，その応用技術の開発が活発 に行われるようになってきた．本稿では，その新たな潮流について解説する．
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