信頼性シンポジウム発表報文集
Online ISSN : 2424-2357
ISSN-L : 2424-2357
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2-1 p-MOSFET における NBTI による劣化予測モデルに関する一考察
*加藤 一郎, 横川 慎二
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会議録・要旨集 フリー

p. 13-16

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© 2003 日本信頼性学会
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