信頼性シンポジウム発表報文集
Online ISSN : 2424-2357
ISSN-L : 2424-2357
2011_秋季
セッションID: 3-3
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3-3 高集積化LSIパッケージにおけるカーボンナノチューブのリード実現に関する考察(セッション3「試験,故障解析,部品,要素技術の信頼性,ハードウェア面(2)」)
村岡 哲也*若松 洋一池田 弘明
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抄録
現在,流通しているLSIパッケージは,Pin grid array(PGA)が主流である.しかし,PGAパッケージと配線基板とを接続するハンダ・ボールの直径を0.4mm以下に小さくすることは著しく困難であるため、PGAパッケージの高集積化は十分ではない.そこで,本研究ではハンダ・ボールに代わる新しい素材を求めて,電気伝導度,機械的強度,耐食性などの側面から詳細に検討を加えた結果,ハンダ・ボールに代わりCarbon nano-tube(CNT)の利用を提案したい.CNTをLSIパッケージ・ピンに利用すれば,集積度はPGAパッケージの4倍になるであろう。集積度が4倍になるとピン数も4倍になるが、LSI製品の機能検査を従来よりも入念に行なうことが容易となるのでシステムの信頼度は大幅に向上するであろう.また、配線基板に0.1mmφのピン挿入孔を開け,そこに円錐状のCNTピンの先端を差し込んでハンダ付けすれば,パッケージ,プリント回路基板,CNTピンの間のレジストレーションずれを防ぐことが可能となるであろう.
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© 2011 日本信頼性学会
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