1993 年 32 巻 4 号 p. 233-241
円孔を有する「0°/90°」2S積層CFRP材料の一軸引張り試験および疲労試験による,特に低応力の繰返し荷重下における損傷過程をAE法と赤外線応力画像測定法および軟X線を用いて観察した. 「0°/90°」2S積層板の引張り試験過程でのAE発生は,最大荷重の67%で生じ,得られたAE信号振幅は広い範囲に分布していた.また,疲労損傷過程では見られない高い振幅のAEが発生した.一方,低応力での繰返し荷重下(疲労)では,AE振幅は損傷初期では比較的低いものが,さらにき裂進展に従って,中程度の振幅をもつものが観察され,一様引張りと繰返し荷重とでは異なる損傷機構が生じて いることがわかった. 疲労損傷の初期形態は円孔縁から発生する90°層内のトランスバースラミナき裂であり,そのような表面層の90°トランスバースラミナき裂の成長過程が赤外線応力画像測定法によって検知・観察できることがわかった,赤外線応力画像測定法は,CFRPの損傷過程の実験的評価においてきわめて有効な手 法であることが示され,「0°/90°」2S積層板の疲労における各応力レベルでのトランスバースラミナき裂 の進展と損傷過程を,赤外線応力画像とAE振幅分布特性の変化より追跡できることを明らかにした.