真空紫外光イオン化質量分析法による直鎖状炭化水素の測定

山本 光夫; 須佐 秋生; Kowhakul Wasana; 越 光男

doi:10.11491/scej.2007f.0.351.0

化学工学会第39回秋季大会

セッションID: Q309

DOI https://doi.org/10.11491/scej.2007f.0.351.0

会議情報

主催: 社団法人　化学工学会

シンポジウム＜環境部会シンポジウム＞ (O102-O109, O113-O127, O201-O209, O213-O221, O301-O309, O313-O324, Q113-Q120, Q122-Q127, Q201-Q206, Q216-Q221, Q301-Q309, Q313-Q320)

真空紫外光イオン化質量分析法による直鎖状炭化水素の測定

*山本光夫, 須佐秋生, Kowhakul Wasana, 越光男

著者情報

キーワード: n-alkane, VUV-TOFMS, nano-particle

会議録・要旨集フリー

詳細

責任著者(Corresponding author)

J-STAGEへの登録はこちら（無料）