生産研究
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研究速報
電子顕微鏡下のマニピュレータを用いた微小引張疲労試験システムの構築
土屋 健介早川 直樹藤村 康平柿内 利文植松 美彦
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2019 年 71 巻 6 号 p. 1025-1028

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抄録

本研究では,微小試験片に対して引張疲労試験を行うシステムを開発した. このシステムは,正確な初期位置決めと引張応力印加のためのマイクロマニピュレータ,マイクロマニピュレータ先端に取り付けられたプローブ,および観察のための走査型電子顕微鏡で構成される.試作したシステムを用いてマグネシウム合金AZ31 で作られた試験片の引張試験と引張疲労試験を行った結果,通常のサイズの試験片に比較して3 ~5 倍の引張強度および引張疲労強度を持つことが確認できた.

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© 2019 東京大学生産技術研究所
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