XAFSを用いたV₂O₅-P₂O₅-M_xO_y系ガラスの物性予測のための構造解析

抄録

　V₂O₅-P₂O₅系ガラスの構造解析を目的として、V原子周囲の局所構造をSPring-8 BL14B2のXAFS測定装置にて評価した。V-K吸収端のXANESスペクトルの結果より、ガラス中にはバナジル基（V=O）の存在が示唆された。また、P₂O₅量の増大に伴ってVの還元量が増加することが分かった。EXAFSの結果からは、V₂O₅-P₂O₅系ガラスではV-O間の結合距離が結晶と比較して短いものが存在することが明らかとなった。さらに、V-O間の結合距離は、P₂O₅量の増加と共に変化することが判明した。