粉末Ｘ線回折実験における蛍光バックグラウンドを利用したＸ線吸収端近傍スペクトル測定法の開発

抄録

　粉末Ｘ線回折実験における簡便なＸ線吸収端近傍スペクトル（XANES）測定法として、蛍光バックグラウンドを利用した測定法の開発を行った。この方法は粉末Ｘ線回折データのバックグラウンド領域に標的元素の蛍光Ｘ線成分が含まれることを利用して、バックグラウンド領域の強度変化によって蛍光法による XANES 測定を行うものである。Bragg ピークを除いた平坦なバックグラウンド領域の平均強度の変化から、鉄の酸化状態の違いを XANES 測定で検出することができた。