Ｘ線 CT 法による GeO₂ ガラス高密度化の観察

抄録

　GeO₂ ガラスの圧縮挙動をＸ線 CT 法により測定した。ヘリウム雰囲気で加圧すると、加圧の初期において体積はほとんど変わらなかった。これはヘリウムが GeO₂ ガラス内に侵入したためだと思われる。更なる加圧により、3 GPa 付近から体積減少が確認された。これは GeO₂ ガラスの局所構造変化に対応した圧縮メカニズムの変化と考えられるが、変化が起こった圧力は、非ヘリウム媒体を用いた際に観測される圧力よりも低い圧力であった。