BL40XU ビームラインにおけるＸ線マイクロ-ナノビーム光学系の高性能化

抄録

　金箔をプレスすることで作成した単凹レンズの集光光学系を用いて、BL40XU ビームラインにおいて従来最小であった 2 µm 径よりもさらに小さい、1 µm 以下のビーム径を実現することを目標として試験を行った。レンズの形状エラーや BL40XU 固有の高調波の問題もあり、予想されたビーム径は得られなかったが、半値幅で 1.54 µm のビームを得ることができた。また単純にピンホールによってマイクロビームを得るのと異なり、サンプルを光学系から大きく離すことができるので、測定レイアウトの自由度が大きく増すことになる。