放射光Ｘ線回折・散乱を用いた溶剤ストレスクレージング機構解析(2)

抄録

　樹脂の破壊機構のひとつに、応力下で各種薬剤と接触してクレーズやクラックを発生する溶剤ストレスクレージング（SSC: Solvent Stress Crazing）がある。その破壊メカニズムについては分子鎖間への薬剤分子の拡散による応力緩和とされているが、詳細な構造解析を行った例は少ない。本研究では、SSC による樹脂および薬剤分子の凝集構造変化を明らかにすることを目的に、放射光Ｘ線回折・散乱測定による構造解析を行っている。今回、ドデシル硫酸ナトリウム（SDS）水溶液により SSC が発生した耐衝撃性ポリスチレン（PS-HI）の小角Ｘ線散乱（SAXS）測定より、PS-HI 内部に SDS 分子が浸透したこと、PS-HI のクラックの配向方向に一部の SDS 分子が配列したことを明らかにした。