BL01B1 における多素子 SSD 用デジタルデータ処理システムの高性能化

抄録

　多素子 Ge 半導体検出器（SSD）を用いた蛍光法 XAFS 計測システムにおいて、デジタル信号処理システム（DSP）の更新および蛍光 XAFS 計測システムの構築を行った。本計測システムを用いて蛍光 Quick-XAFS 測定を行い、50 ms 程度の計測時間で安定的に測定できることを確認した。