小角Ｘ線散乱を用いた米飯のナノスケール構造とそのダイナミクスの解明

抄録

　炊飯後、時間とともに米飯の食味が低下する老化と呼ばれる現象に対し、小角Ｘ線散乱領域でのＸ線光子相関分光法（XPCS）によるダイナミクス解析を実施することで、米飯の主成分である澱粉の運動性の変化を評価し、老化メカニズムを理解することを目的とした。米一粒を直接測定する手法により、ミリ秒〜数秒オーダーの緩和現象を捉えることができ、緩和速度は冷蔵保存時間に伴い低下した。広角Ｘ線散乱測定から、緩和速度の時間変化は澱粉Ｂ型結晶への再結晶化によることが明らかになった。