抄録
温度制御下で米飯一粒の時間変化を連続的に追跡することができる米粒専用サンプルチェンジャーを用いて、USAXS/WAXD 同時測定により、米一粒定点の経時変化を測定した。保存に伴いB型結晶のピーク強度が連続的に増加し、WAXD から得られた相対結晶化度と USAXS から得られた相関長約 20 nm ピークの積分値の増加が連動していた。q = 0.04 nm-1 以下の低 q 領域において q -4 での強度減衰である Porod 領域が観察され、空孔と糊化澱粉界面との急峻性が、q -4 での強度減衰に寄与している可能性がある。