コンプトン散乱元素分析手法の貴金属被膜下及び卑金属被膜下の金属に対する検出下限の検証

抄録

SPring-8 BL08Wの高エネルギーＸ線により、非破壊で貴金属の贋造品や卑金属で覆われた貴金属の内部材質の同定が可能か否か検証した。その結果、金板を卑金属板(50～600 μm)で覆った場合には内部材質である金の蛍光Ｘ線が検出された。一方、内部材質を卑金属板とし、金板(127 μm)で覆った場合には、内部材質が軽元素（鉄、銅）の場合、蛍光Ｘ線は検出されなかったが、これらはコンプトン散乱の観測により、同定が可能となった。