巨大熱電効果を有する有機半導体薄膜の温度変調による結晶構造解析

抄録

有機低分子半導体薄膜について、温度可変試料ステージを用いて2次元斜入射X線回折（2D-GIXD）測定を行い、2次元回折画像を得た。この画像から格子パラメータの温度依存性を求め、アルキル基が導入された有機低分子に関して大きな体積熱膨張、ヘテロ原子が導入された有機低分子の負の体積熱膨張など、分子構造に特徴的な熱膨張の関係性が得られた。今後、格子パラメータからパッキング構造を予測推定し、分子間相互作用と熱膨張、トランスファー積分の温度依存性などの解析に発展させる予定である。