光源の違いによる走査型Ｘ線後方散乱ラウエ顕微鏡の性能比較

抄録

　永久磁石の磁石粒子の粒径や配向分布を調べ、保磁力との相関関係を明らかにするため、走査型Ｘ線後方散乱ラウエ顕微鏡の立ち上げを行った。分析に適したビームラインを選定するため、BL28B2、BL40XU、BL39XU において、それぞれ白色X線、ピンクビームＸ線、ナノビーム単色Ｘ線による回折像を比較した。この結果、低バックグラウンド、ナノビーム利用のメリットから、単色Ｘ線を利用することが有効であるとの結論を得た。