小角Ｘ線散乱によるゴム中の階層構造の解析

抄録

　本報告では実用上用いられる複数のゴムやフィラー種の組み合わせからなる数多くのゴム組成物に対し、小角Ｘ線散乱によりゴム中のフィラー凝集構造を評価した。その結果、同一粒径グレードのカーボンブラック（CB）では 15–420 nm の空間スケールにおいて、原料ゴム種によらず、同一のフィラー凝集構造となった。シリカに関しては、ゴム分子鎖末端の変性により凝集塊直径が小さくなる効果を確認した。