サンプル傾斜走査型Ｘ線１分子計測法の試み

抄録

　Ｘ線１分子追跡法はナノ結晶を標的分子に標識し、標的分子の運動をナノ結晶の方位変化として検出する手法で、タンパク質分子の内部運動評価などに利用される。ナノ結晶の検出できる傾斜角度範囲は、入射Ｘ線バンド幅によって制限され、充分でない。本研究では広範囲の角度変化を追跡するためのサンプル傾斜走査型Ｘ線1分子追跡法の実現可能性について検討した。