トポロジカル絶縁体Bi2Te3超薄膜へのPbドープによる フェルミ準位制御と電気伝導度測定

抄録

トポロジカル絶縁体は、バルクは絶縁体だが、金属的でスピン分裂した表面状態を持つ物質である。Bi₂Te₃もその一つであり、ディラックコーン表面状態を持っているが、実際の結晶ではフェルミ準位がバルク伝導帯を横切っている。本研究では(Bi_1-xPb_x)₂Te₃超薄膜を作成し、Pbドープによるフェルミ準位制御を角度分解光電子分光法で示し、in situマイクロ４探針法でディラックコーン表面状態の電気伝導度測定に成功したので詳細を紹介する。