主催: 日本表面科学会
日本電子株式会社
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オージェスペクトルのバックグラウンドは、二次電子などにより生成されるため試料に応じて変動が大きく、一義に定義することが難しい。そのため、定量分析では微分することが一般的だが、複数の化学状態が混在した系では、各々のピークが重畳することにより、ピーク強度と原子濃度が比例しなく精度が悪くなる。本研究では、定量精度を向上させるため、標準スペクトルを用いた化学状態分析と、それを用いた定量法について検討する。
表面科学講演大会講演要旨集
日本表面真空学会学術講演会要旨集
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