主催: 公益社団法人 応用物理学会 多元系化合物・太陽電池研究会
会議名: 平成30年度 応用物理学会 多元系化合物・太陽電池研究会 年末講演会
開催地: 東京理科大学 神楽坂キャンパス
開催日: 2018/11/30 - 2018/12/01
p. 77-80
In this study, the ellipsometric measurements have been performed to multilayered semiconductor nanocrystals deposited by Layer-by-Layer method. The obtained dielectric function spectra show a change related to the number of nanocrystal layers. The effects of interaction between semiconductor nanocrystal layers are found in the dielectric function spectra.