2E3-2 On Nonlinearity Measurement of RF SAW/BAW Deices Using Wafer Probes

超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演論文集

Online ISSN : 2433-1910
Print ISSN : 1348-8236

2E3-2 On Nonlinearity Measurement of RF SAW/BAW Deices Using Wafer Probes

Yuanyuan Liu, Wanli Cai, Hao Liu, Yongyuan Zhang, Jingfu Bao, Ken-ya Hashimoto

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2025 年 46 巻 p. 151-

DOI https://doi.org/10.24492/use.46.0_2E3-2

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© © 2025 特定非営利活動法人超音波エレクトロニクス協会

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