主催: 一般社団法人画像電子学会
会議名: 画像電子学会第284回研究会講演予稿
回次: 284
開催地: 広島大学
開催日: 2018/03/01 - 2018/03/02
3 次元点群処理技術への注目が高まる中,これらの諸問題を解決するため,高い再現性を持つ特徴点抽出法 が求められている.従来,特徴点抽出法は突出した位置にある実在の点を探しだすことで,再現性の確保を企図していた.一方で,VKOP 特徴点抽出法は,点群内の平面部分を活用して仮想的位置に特徴点を得る方式である.VKOP 抽出法による特徴点は,一般的な方式よりもオクルージョンやセンサノイズに耐性があることが実験により確認されている. しかしながら VKOP 抽出法は,前処理である平面推定法の性能に依存するという問題がある.この解決に,推定した平面の安定性の尤度を評価し,取捨選択する手法が提案された.本報告では尤度の検討を進め,評価対象を平面部分の面積とし,尤度の高い順に取り出す手法を提案する.実験により,従来の VKOP 抽出法よりも高い再現性をもった特徴点を得られることを確認した.