イオンチェンバーの代わりにX線CCDカメラを使用し，そこから得られた画像の濃淡を数値化することにより，位置分解能を兼ね備えたX線吸収微細構造（XAFS）測定を試みた．これは，通常の透過法によるXAFS測定レイアウトのうち，試料の下流側に設置されるイオンチェンバーをダイレクト型のX線CCDカメラに置き換えることに相当する．エネルギーを走査させながらCCDカメラの画像を動画として記録することにより，XAFS測定範囲に対応する映像を得た．各エネルギーにおけるX線透過強度は，CCDカメラの動画からフレーム抽出した画像の濃淡解析によって得た．CCDカメラによる画像は，約30万のピクセルからなっており，その任意の領域の解析を行うことで，X線強度に「位置分解能」を持たせることが可能になった．得られたXAFSデータは，EXAFS関数の振幅が過小に導出されるなど，定量的な解析において精度面で若干の問題を残したものの，定性的な分析には十分に耐えうるものであった．
