株式会社テクノエックス 技術部 開発グループ
2012 年 43 巻 p. 459-464
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近年,エネルギー分散方式を用いた微量分析は,多く報告されている.本研究では,軟X線の高感度分析を目的として,励起源と検出器窓の改善を行った.励起源には,分光結晶により単色化したW-Mα1線を用いて,X線管からのバックグランドの低減を図った.また,検出器窓材には,一般的に使用されているベリリウムから高分子(AP3.3)に変更したことで,軟X線の吸収を抑えることに成功した.
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