トリチウムイメージングプレート法による低放射化フェライト・マルテンサイト鋼F82H中の水素拡散係数測定

抄録

室温～473Kの低温度領域において、低放射化フェライト・マルテンサイト鋼F82Hにトリチウムを含んだ水素を注入し、トリチウムイメージングプレート法によりその注入された水素の深さ分布を測定した。得られた深さ分布にフィックの拡散方程式の解析解をフィッティングすることにより水素拡散係数を決定した。