【原著：ノート】　各種澱粉粒の電界放出形走査電子顕微鏡による観察(その2)

酵素分解後のトウモロコシ澱粉ならびにジャガイモ澱粉について

抄録

高分解能・高倍率下での観察が可能な電解放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM) を用い,低加速電圧(2 kV,10 kV) で酵素分解後の3 種類のトウモロコシ澱粉粒(n-maize,waxy,high-amylose) ならびにジャガイモ澱粉粒の状態を観察し,以下の結果が得られた.酵素分解後の3 種類のトウモロコシ澱粉粒にはいずれも層状構造が見られたが,層と層の間の幅はhigh-amylose 200～900 nm,n-maize 30～350 nm,waxy 50～350 nm でhigh-amylose は他の2 種類よりも広かった.また,n-maize の層状構造におよそ25～85 nm の突起が観察され,さらに突起が連なって層を構成していることがわかった.waxy の層状構造には突起ははっきりとは認められなかったが,層と層の間にはおよそ30～35 nm の突起が観察できた.high-amylose の層にも突起は認められなかったが,層と層の間に50～90 nm の小溜が観察された.また,パンクレアチンで48 h 分解後のジャガイモ澱粉粒(サッシーとインカのめざめ) の表面におよそ10～60 nm の突起が観察された.