エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第28回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 6B-08
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第28回エレクトロニクス実装学術講演大会
色情報を用いた3D外観検査技術
*坂井 一文, 野中 一洋
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キーワード: 外観検査
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抄録
表題:色情報を用いた3D外観検査技術IC外観検査の中で、コプラナリティやフット角は、“高さを測る”必要があり、3次元または3D検査と呼ばれている。2D検査は、画像処理の発達によって、ムラやシミなどの問題を除くと、ある程度完成された検査が行えるようになってきたが、3D検査には、まだ多くの問題が残されている。発表では、“高さ情報を色情報として”2D検査画面に挿入することで、3D検査を行うとする2つの技術(試み)について紹介する
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© 2014 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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