Taアクチベーターにより発生する多原子分子が表面電離型質量分析計のSr分析に与える影響 ～イオン収率とX線解析プロファイルの観点より～

抄録

表面電離型質量分析計(TIMS)では，Sr同位体比を非常に精度良く測定することができ，その同位体比によって年代同定や環境動態など多くの有益な情報をもたらす。TIMSによるSr分析では，ReフィラメントにSr溶液のほかに，Taアクチベーター(Ta-Act.)溶液を塗布して測定を行う。Ta-Act.はSrのイオン収率を増加させる役割がある。しかし，Ta-Act.中に含まれる成分によって，フィラメント上のSrサンプルに与える影響はわかっていない。本研究では，Sr測定時に発生する多原子分子のピークを測定した。また，X線回折装置(XRD)によってフィラメント上のTa-Act.の状態を確認し、Srイオン収率に与える影響を考察した。実験結果より，SrO⁺とSrF⁺の分子イオンピークを確認した。発生源は，Ta-Act.に含まれる酸であることがわかった。また，XRDの結果より，フィラメント上のTaが非晶質のとき，イオン収率を安定させることがわかった。