走査型 X 線顕微鏡と結像型 X 線顕微鏡の相補的利用による大面積隕石超薄切片の多元素 XANES

抄録

走査型透過X線顕微鏡(STXM)と結像型X線顕微鏡(TXM)を相補的に利用し、Orgueil CI 炭素質コンドライト隕石の C, O, Fe, Mg-,X 線吸収端近傍構造(XANES)分析を行った。試料中のフランボイダル磁鉄鉱周辺と層状珪酸塩マトリックスとの間でC-XANESスペクトルに違いはなかったが、一部の磁鉄鉱粒子の外縁に存在する有機物は芳香族炭素に乏しくカルボキシル基に富み、磁鉄鉱表面で固体有機物の酸化分解が起こっている可能性が示唆される。また、試料中の有機物の芳香族炭素と芳香族ケトンの割合に正の相関が見られた。磁鉄鉱の割合が異なる２種の試料間で有機官能基組成に不均一性が見られた。STXMとTXMとで取得したXANESスペクトルを比較すると幾つかの相違点があり、TXM改良の余地はあるが、両手法の相補利用により試料中の物質分布の全容を把握できる可能性を示すことができた。