コノスコープによる光学的一軸性結晶c軸方位の新測定法
2002 年 108 巻 3 号 p. 176-185
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2002 年 108 巻 3 号 p. 176-185
光学的一軸性結晶のc軸方位をコノスコープ像を用いて測定する新しい方法を提案する.この方法は,コノスコープ視野上に設定した2つの検査点が消光するよう,それぞれステージを回転させ,それらのときのステージ目盛の値(ステージ角)からc軸方位を測定するものである.2つの検査点は十字線のE-W線上にそって視野中心から両側に等距離の位置に設定した.検査点での異常光の振動方向がE-W線に垂直になるようなステージ回転位置で,その検査点は消光する.その消光条件を,c軸方位,視野中心から検査点までの距離,結晶の主屈折率,およびそれぞれの検査点の消光時のステージ角を用いて定式化した.得られた式からc軸方位は計算される.このコノスコープによる方法は,伝統的なUステージによる方法より,高い精度でc軸方位を測定できる点で優れている(石英の場合,測定誤差を0.2°以下にすることができる).
