電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌)
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<電子物性・デバイス>
Micro-P構造適用による600V IGBTの高性能化
仲野 逸人小野澤 勇一河野 涼一山崎 智幸関 康和
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2010 年 130 巻 6 号 p. 951-954

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抄録

This paper describes the next generation 600V trench-gate IGBT utilizing the Micro-P structure to realize low noise and low power dissipation. We have achieved “better turn-on di/dt controllability”, “oscillation free turn-off” and “improved Von-Eoff trade-off relationship” in the 600V IGBTs. In a typical inverter operation, the new chip has realized 10% lower power dissipation and the temperature difference between junction and case (dTj-c) can be reduced by 2.5deg. C.

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© 電気学会 2010
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