電気学会論文誌E(センサ・マイクロマシン部門誌)
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特集論文
センサ・MEMSのための金属薄膜および鉛フリーはんだを用いた低温封止技術に関するレビュー
日暮 栄治, 須賀 唯知
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2016 年 136 巻 6 号 p. 266-273

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抄録
Wafer-level packaging is one of the most important aspects in manufacturing of sensor and microelectromechanical system (MEMS) devices. It determines the cost, yield, reliability, and long-term stability of these devices. In recent years, low-temperature wafer bonding has become a very important packaging and sealing technology for the realization of advanced devices integrated with dissimilar materials. This paper focuses on low temperature sealing technologies (< 200°C) using metal thin films and solders and reviews the state-of-the-art low-temperature sealing technologies.
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© 2016 電気学会
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